测量精度:10-8 emu
温度范围:基系统 1.8 K-400 K,He3选件 0.4 K-2 K,高温选件 300 K-1000 K
最大磁场:7 T
剩余磁场:<2.0 Oe
控温速率: 0.01 K-30 K/min
交流测量频率范围:0.1 Hz-1000 Hz
该系统可以测量块材、粉末、薄膜等样品的直流和交流磁学性质,给出样品磁化强度与温度、磁场、时间的关系,交流磁化率的实部和虚部随温度的变化等。广泛应用于物理、材料、化学等领域。
块材或薄膜样品尺寸不超过5×5×1 mm;粉末样品质量不超过50 mg;高温选件测量样品最好为固体薄片状,长度和宽度小于5 mm,厚度小于1 mm。不能被测试的样品种类:具有放射性的样品;真空中会释放大量气体,尤其释放的气体具有腐蚀性的样品;有化学毒性和生物毒性的样品。