基本信息

  • 生产厂商 FEI
  • 资产编号 2017344301
  • 资产负责人 石磊
  • 购置日期2014-12-12
  • 仪器价格857.52 万元
  • 仪器产地捷克
  • 仪器供应商
  • 购买经办人
  • 主要配件
  • 主要参数

    X-FEG电子枪亮度：1.8*10^9 srad（@200kV）

    STEM HAADF分辨率：0.16 nm；TEM信息分辨率：0.12 nm

    TEM点分辨率：0.25 nm

    STEM放大倍数：150-230,000,000倍；TEM放大倍数：25-1,500,000倍

    加速电压：200kV

    双倾杆最大倾转角度：+-30度

    Super-X EDS系统：4个无窗SDD检测器对称设计

    EDS立体角：0.9srad


仪器介绍

广泛应用在物理、化学以及材料科学中，作为确定物质结构以及成分的一个重要方法，可金属、陶瓷、半导体、塑料等材料进行微区结构观测，配合能谱仪对样品元素进行分布分析。