基本信息

  • 生产厂商 理学
  • 资产编号 2017349802
  • 资产负责人 石磊
  • 购置日期2017-03-29
  • 仪器价格277.00 万元
  • 仪器产地日本
  • 仪器供应商
  • 购买经办人
  • 主要配件 常规固体样品槽、高温样品台(温度范围RT~1200℃)、超低温样品台(温度范围4 K~300 K)、极图附件、小角附件
  • 主要参数

    X射线光源:Cu靶;

    电压电流:电压≤45 kV,电流≤200 mA

    最大功率:9 kW

    测角仪精度:1/10000°。

仪器介绍

本仪器采用高分辨率θ/θ闭环测角仪驱动系统、交叉光束光学系统(CBO)、一个9.0 kW旋转对阴极X射线发生器。

可用于:粉末衍射、薄膜衍射、SAXS、面内散射
与材料结构相关的多方面分析:金属、陶瓷、矿物及人工合成的无机晶体,有机晶体,非晶态,聚合物,各种复合材料等。
研究分析内容:物相分析,通过不同取样研究相变、非晶态晶化过程,用不同衍射几何研究多晶取向、聚合物聚集态结构、晶体应力、晶格常数、长周期、外延膜晶格匹配、块状单晶定向 。