扫描范围： X、Y: 12 μm ×12 μm，Z : 2.5 μm
光学系统： 450倍放大，彩色CCD摄像头
变温系统： -35 ℃～250 ℃
噪声水平： ≤ 0.3 Å
TUNA2 ：C-AFM分辨率为 2 pA，测量范围10 nA～1 μA。TUNA分辨率约为50 fA，测量范围 10 pA～100 pA
控制器：Nanoscope V型
由针尖与样品之间的作用力的形式，扫描探针显微镜(SPM)的工作模式可分为接触模式(contact mode)和轻敲模式(tapping mode)。MultiMode V SPM 不需要对样品的任何特殊处理，就可以非常方便的获取从纳米尺度到原子尺度的图像数据，同时提供样品表面的三维图像，广泛的应用在材料科学、生命科学、聚合物等诸多领域。它能够提供全部的原子力显微镜 (AFM) 技术，可以测量样品的多种表面特性，如形貌、粘弹性、摩擦力、吸附力、磁/电场分布、表面电势等，同时配备了电流测量(TUNA)、液体/气体环境和控温附件(-35℃~250℃)等附件。
