光电压谱测量:最小电压>10nV;
光电流谱测量:最小电流>10 pA
光伏相位谱分析:相检测范围:-180°至+180°
光谱波长范围:300-1100nm,波长最小间隔:2nm
光源配置:氙灯光源(300-1100nm),功率:500W(功率250W-500W连续可调),可点光源(2-6mm)或平行光输出(40-80mm)
表面光电压谱仪是一款高性能、科研级光电表征设备,主要用于光催化、半导体、光伏及新能源材料的表面光电性能分析。仪器基于表面光电压效应,可精准检测材料在光照下产生的光生电荷分离、迁移与复合行为,为材料结构优化、机理研究与性能提升提供关键数据支撑。
该仪器集成高精度光源、单色仪、锁相放大弱信号检测系统及电磁屏蔽样品室,实现 200-1600nm 紫外 - 可见 - 近红外全波段连续扫描,具备高灵敏度、高分辨率和高稳定性特点。可同时测试表面光电压谱、光电流谱及相位谱,能够快速获得材料带隙、表面态、载流子寿命、分离效率等重要参数,满足多样化科研测试需求。
仪器操作简便、自动化程度高,配套专业分析软件,支持数据实时采集、处理、存储与导出。样品台兼容性强,适用于固体、薄膜、粉末等多种形态样品,测试重复性好、抗干扰能力强,可有效降低环境噪声对微弱信号的影响。