基本信息

  • 生产厂商 IONTOF
  • 资产编号 尚未验收
  • 资产负责人 刘建一
  • 购置日期2023-12-21
  • 仪器价格820.00 万元
  • 仪器产地德国
  • 仪器供应商IONTOF
  • 购买经办人
  • 主要配件 分析用Bi离子源、剥离用EI离子源、剥离用Cs离子源、Transfer Vessel样品转移系统，用于在粗真空或惰性气体条件下对样品进行转移。
  • 主要参数

    1. 质量分析器：低质量时质量分辨率(SiH+：29amu)：≥17000 ；高质量时质量分辨率(＞200amu)：≥26000 ；分析绝缘体时质量分辨(on PET：104amu)：≥18000 ；质量范围：1～12000amu；质量精度：< 1 mu for m< 100 u; < 10 ppm for m > 100 u。

    2. 分析用Bi离子源：Bi液态金属团簇离子枪，可以提供BiMn分析离子束，加速电压：30 keV；离子束流：＞40nA

    3. 剥离用EI离子源：气体电离离子源（EI源），可以对O或Ar气体电离的离子源，离子束能量范围：最小≤100eV；最大≥2.0keV，最小束斑直径：＜10 um

    4.剥离用Cs离子源：离子束能量范围：最小≤100eV；最大≥2.0keV，最小束斑直径：＜5 um


仪器介绍

飞行时间二次离子质谱是重要的表面分析手段，广泛应用于能源电池材料的电池表界面研究，不仅可以得到表界面的化学成分，对表界面性能进行预测，利用离子剥离技术，还可以得到三维空间上的元素分布及结构特征，从而评估界面化学结构和不规整性，以及横向和纵向的成分变化。适用于各类功能薄膜的机理研究、能源电池、催化剂研究与失效分析、化学与化学工程等领域。