高分辨全反射X射线荧光痕量元素分析仪

高分辨全反射X射线荧光痕量元素分析仪

  • 仪器分类 成分分析
  • 仪器状态
  • 所属单位 中国科学技术大学 > 理化科学实验中心 > 成分分析平台
  • 仪器生产商 布鲁克
  • 购置日期 2024-12-09
  • 使用模式 项目委托
  • 规格型号 S4 TStar
  • 放置房间号 理化中心403室

使用指南

  • 暂无数据

FAQ

  • 暂无数据

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